
CS3000 系列
半导体芯片自动测试设备系统
CSC100 是中创芯盛自主研发的半导体芯片自动测试设备系统,主要应用在晶圆制造配合探针台做 CP 测试、芯片封测等领域配合分选机进行 FT 测试。设备具有超高性价比、体积小、重量轻、功耗低和维护便捷等优势,实现集约一体化产品设计特色。
技术规格
Digital Channel256ch/slot, Max. 6 slot
Vector Speed1~100 Mbps
Vector Depth1G
Edge ResolutionCoarse: 40pS; Fine: 8pS
Clock(MCG)10~400MHz, 12ea per slot
Frequency Counter16bit(256ch)
DPS Voltage MeasureRange: -5.0~5.0V, Accuracy: ±0.1%+4mV
DPS Current MeasureAccuracy: ±0.1%+3mA
Power ConsumptionSystem: 0.8~3 kW
Power Supply100~240 VAC
应用场景
- 晶圆制造 CP 测试(配合探针台)
- 芯片封测 FT 测试(配合分选机)
- 数据信息处理芯片测试
- 模拟信号处理芯片测试
- 数据储存芯片测试
- 逻辑编程芯片测试
- 电源管理芯片测试
- 显示驱动芯片测试
