CM5000 系列

CM5000 系列

内存测试设备系统

CM5000 系列是专为内存测试设计的,具有高带宽存储接口,DRAM/NAND 全覆盖,模组级系统测试

技术规格

大于4000通道
测试精度±0.05%
并行测试数最高 64 site
UPH≥3000 wafers/hour
对位精度±1μm

应用场景

  • 内存晶圆CP测试
  • 存储芯片 FT测试
  • HBM晶圆 CP 测试
  • HBM芯片FT 测试
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苏ICP备2026038936号-1