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CM5000 系列
内存测试设备系统
CM5000 系列是专为内存测试设计的,具有高带宽存储接口,DRAM/NAND 全覆盖,模组级系统测试
技术规格
大于4000通道
测试精度
±0.05%
并行测试数
最高 64 site
UPH
≥3000 wafers/hour
对位精度
±1μm
应用场景
内存晶圆CP测试
存储芯片 FT测试
HBM晶圆 CP 测试
HBM芯片FT 测试
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苏ICP备2026038936号-1